图像融合

高反光研究点

1. 怎么确定最佳曝光时间序列？
2. 怎么评估相位编码信息的质量？

多重曝光

1. 手动选取曝光时间
2. 根据反射率自动预测曝光时间
3. 多次曝光合成高动态范围条纹图像
4. 使用调制强度值最大的像素生成图像掩码用于合成条纹图像
5. 使用灰度直方图估算被测物图所需的曝光次数和最佳曝光时间
6. 基于非主要频率分量的幅度识别饱和像素；

投影图案亮度调节

1. 降低最大输入灰度值
2. 自适应条纹图案
3. 局部修改投射的条纹图案最大输入灰度值

多视角融合

1. 双单目

图像质量评估标准

• 引入激活函数

图像纹理A和强度调制B的组合；

$\psi$是用于控制过曝的图像纹理激活函数，给接近过曝的像素分配较小的权重；

$\Theta$在强度调制较小时斜率更大，在强度调制较大时斜率更小，从而使得强度调制收敛于T而不超过它；

特征提取依赖：

• 梯度
• 熵

利用梯度和熵衡量图像质量26，27，30，31，32；

时间序列选取

1. 在开始测量之前，首先在默认曝光时间$t_{mid}$下，捕获单张query图像；
2. 如果query过曝（过曝像素>5%）将tmid调整为较低的曝光量，并将较低的曝光量定义为初始曝光量t1;
3. 再选择11个曝光时间，捕获11张图像，加上上一步的一张，总共12张图像$I^k$；（是总共12张还是每个曝光序列12张？？？）
4. 通过上述12张图像分别计算出强度调制图$B^k$；
5. 通过遍历$B^k$生成二值掩膜图像$M^k$，阈值为$T_{new}$；
6. 通过$M^k*I^k$得到滤波后的图像$I_{update}^k$；
7. 采用牛顿法优化方法确定下一次的曝光时间；